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LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀

簡要描述:LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀利用磁感應法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚度。

  • 產(chǎn)品型號:LEPTOSKOP 2042
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2024-07-06
  • 訪  問  量:585

詳細介紹

LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀

利用磁感應法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚度。
 

儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合,同時提供10種可供任意選擇的語言,以滿足客戶的各種需求。

涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟的產(chǎn)品,電池壽命長,可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量,因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

 

彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi),可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。

LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀

特點概述
 
大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈校準選項 出廠時已校準,立即可用 在未知涂層上校準* 零校準* 在無涂層的基體上一點和多點校準* 在有涂層的基體上校準*校準數(shù)據(jù)可以別單獨存儲在獨立的校準檔案中,也可以隨時調(diào)出可選擇的顯示模式,以形式去完成測量任務*輸入和極限監(jiān)視*在Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理*可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport統(tǒng)計*可統(tǒng)計評估999個讀數(shù)小值、大值、測量個數(shù)、標準偏差和極限監(jiān)視局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)在線統(tǒng)計,所有統(tǒng)計值概括

 

  3種配置級別以更好的完成測量人任務
LEPTOSKOP 2042 有3種配置級別
 
 基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征
 高級型 - 附加統(tǒng)計評估
 專業(yè)型 - 統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲
  
如果針對新的測量要求,而需要儀器增加新的功能,可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或?qū)I(yè)型。升級只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼,“統(tǒng)計”和/或“統(tǒng)計& 數(shù)據(jù)存儲”,便可完成;而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。

 

  多樣的探頭
多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下,更容易地測量復雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求,我們也可以訂做特殊探頭。

 

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